Dwuplatformowy mikroskop świetlno-elektronowy ZEISS EVO MA10

 

 

OFERTA SPRZEDAŻY
DWUPLATFORMOWEGO MIKROSKOPU ŚWIETLNO-ELEKTRONOWEGO
ZEISS EVO MA10

(dane techniczne)

Zrzut ekranu 2020 08 18 o 17.25.02


SEM EVO MA10 f-my Zeiss jest zestawem do skorelowanej mikroskopii świetlno-elektronowej składający się z mikroskopu świetlnego, metalograficznego, skaningowego mikroskopu elektronowego SEM wyposażonego w spektrometr EDS oraz sprzętowe i programowe elementu integrujące. Zestaw umożliwia zautomatyzowaną korelację obrazów z mikroskopu optycznego i elektronowego przy wykorzystaniu zdefiniowanych sprzętowo punktów referencyjnych. Jest możliwe automatyczne odnajdywanie w mikroskopie skaningowym punktów i obszarów zainteresowania na zdefiniowanych na powierzchni próbki w mikroskopie świetlnym.

Mikroskop SEM

  • Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) zapewniający wysoką jakość obrazowania jak również szerokie możliwości analityczne jest sterowany za pomocą 32 bitowego komputera klasy klasy PC z systemem operacyjnym Windows, poprzez przyjazny dla użytkownika graficzny interfejs.
  • SEM pracuje w trybie wysokiej próżni jak również i w trybie niskiej próżni w zakresie od 10 Pa do 400 Pa. Zapewniona jest możliwość rozbudowy mikroskopu do trybu pracy w wyższych ciśnieniach – do 3000 Pa.
  • SEM ma możliwość późniejszej rozbudowy o system deceleracji wiązki, umożliwiający obrazowanie z minimalną energią lądowania elektronów 200V.

Mikroskop SEM – parametry

  • Rozdzielczość nie gorsza niż:
    - SE: 3nm w wysokiej próżni przy 30 kV napięcia przyspieszającego
    - BSE: 4,5 nm w trybie niskiej próżni przy 30 kV nap. przyspieszającego
    - Zakres powiększeń od 7 razy do 1000000 razy
    - Zakres napięcia przyspieszającego od 0.2 kV do 30 kV zmienne krokiem
    10 V
    - Dokładność nastawy napięcia nie gorsza niż +/- 10 V.
  • SEM zapewnia wysoką stabilność prądu wiązki, wymaganą dla długoczasowych pomiarów EDX i EBSD z maksymalnym prądem wiązki 5 mA. Stabilność prądu wiązki nie gorsza niż 1%/h mierzone w dowolnym okresie czasu pracy mikroskopu.

System emisji

  • SEM jest wyposażony w źródło elektronów z katodą wolframową
  • Prąd wiązki jest zmienny w zakresie od nie więcej niż 1 pA do nie mniej niż 5 mA
  • Mikroskop jest wyposażony w procedurę automatycznego startu emisji elektronów.

Optyka elektronowa i kolumna

  • SEM jest wyposażony w system zapewniający osiągnięcie optymalnej rozdzielczości dla każdej wybranej kombinacji energii wiązki, prądu wiązki i odległości roboczej.
  • Obrazowanie za pomocą detektora BSE jest możliwe równocześnie z analizą EDX przy minimalnej odległości roboczej 8,5 mm.
  • Tryby pracy mikroskopu: tryb dużej głębi ostrości, tryb dużego pola widzenia, tryb wysokiej rozdzielczości oraz tryb analityczny.

System detekcji:

  • wyposażony w wewnątrzkomorowy detektor SE z potencjałem kolektora dobieranym odpowiednio do warunków pracy przez automatyczny system kontroli mikroskopu,
  • wyposażony w pierścieniowy, półprzewodnikowy, wielosegmentowy detektor elektronów wstecznie rozproszonych BSE, mocowany na obiektywie kolumny elektronowej,
  • wyposażony w kamerę CCD do obserwacji wnętrza komory, wraz z podświetleniem IR,
  • ponadto możliwe jest: mieszanie różnych sygnałów w dowolnym stosunku, automatyczna i manualna kontrola kontrastu/jasności, równoczesne obserwowanie sygnałów z dwóch różnych detektorów na dwóch. osobnych monitorach.

Komora

  • komora mikroskopu ma kolisty kształt z wewnętrzną średnicą 310 mm i wewnętrzną wysokością 220 mm,
  • konstrukcja komory umożliwia optymalne umiejscowienie wszystkich detektorów i umożliwia równoczesne zbieranie sygnałów z detektorów bez konieczności zmiany nastawienia ostrości,
  • łącznie mikroskop ma 9 portów sprzętowych umożliwiających instalowanie różnych detektorów.

Stolik

  • SEM jest wyposażony w precyzyjny, w pełni zmotoryzowany stolik o zakresie ruchu: X = 80 mm, Y = 100 mm, Z = 35 mm i R = 3600,
  • stolik jest sterowany myszą lub dedykowanym joystickiem,
  • stolik ma możliwość utrzymania próbek o maksymalnej masie 5 kg (z ruchem ograniczonym do płaszczyzny XY),
  • stolik umożliwia badanie próbek o wysokości maksymalnej 100 mm w analitycznej odległości roboczej i średnicy 230 mm,
  • konstrukcja stolika umożliwia późniejszą rozbudowę o dodatkowe akcesoria takie jak chłodzenie elementami Peltiera, moduł do badań naprężeniowych, etc.

System skanowania

  • System zapewnia dodatkowe tryby pracy: tryb szybki, tryb z małym rastrem, tryb punktowy, skan liniowy, profil linii, skan obrotowy, korekcję pochylenia próbki.

System próżniowy

  • SEM jest wyposażony w pełni automatyczna kontrolę systemu próżniowego. W trybie niskiej próżni jest wykorzystywany w pełni system zaworów,
  • próżnię w komorze mikroskopu zapewnia pompa turbomolekularna o wydajności 250 l/s, wraz z pojedynczą, dwustopniową pompą rotacyjną o wydajności 10 m3/h.,
  • w trybie wysokiej próżni ciśnienie wewnątrz komory jest nie większe niż 9x10.3 Pa. W trybie niskiej próżni jest zapewnione osiąganie w komorze ciśnienia w zakresie od 10 Pa do 400 Pa, z możliwością rozbudowy do systemu umożliwiającego osiąganie w komorze ciśnienia maksymalnego 3000 Pa.
  • w trybie wysokiej i niskiej próżni ciśnienie jest mierzone a jego wartość wyświetlana w odpowiednim menu.

Oprogramowanie

  • SEM jest kontrolowany przez komputer klasy PC z 32 bitowym systemem operacyjnym,
  • sterowanie odbywa się poprzez przyjazny dla użytkownika graficzny interfejs,
  • oprogramowanie umożliwia wprowadzanie adnotacji do zapisywania obrazów,
  • możliwe jest wprowadzenie dowolnego tekstu, dowolną czcionką systemową, w dowolnym miejscu obrazu,
  • czcionki dostępne w systemie Windows® XP lub Windows 7,
  • tekst, czcionka, kolor czcionki i kolor tła mogą być dowolnie ustawiane przez operatora,
  • jest możliwe bezpośrednie przesyłanie obrazów (analiza off-line),
  • standardowe pomiary długości są możliwe w standardowej wersji oprogramowania,
  • oprogramowanie automatycznie rozpoznaje wtrącenia niemetaliczne i prowadzi badanie czystości NMI stali wg DIN 50602.

Środowisko komputerowe

  • kontrolę mikroskopu zapewnia komputer PC z systemem 7,
  • jest zapewniona zewnętrzna komunikacja (serial, paralel, USB, modem) i możliwość pracy w sieci,
  • jest zapewniona możliwość współpracy z lokalną lub sieciową drukarką.

Sterowanie

Mikroskop jest wyposażony w dedykowany panel sterowania. Pełna obsługa mikroskopu jest również możliwa za pomocą klawiatury i myszy komputerowej.

Spektrometr EDS

  • jest wyposażony w bezazotowy detektor SDD, o powierzchni aktywnej 10 mm2
  • zapewnia rozdzielczość energetyczną nie gorszą niż 129eV (MnK, przy 100 000 cps),
  • zapewnia detekcję pierwiastków w zakresie od liczby atomowej od Z=5 do Z=95,
  • jest bezwibracyjny, bezobsługowy, chłodzony bez użycia ciekłego azotu,
  • sterowanie zapewnia komputer klasy PC z dedykowanym oprogramowaniem,
  • umożliwia akwizycję widm i analizę jakościową w czasie rzeczywistym,
  • umożliwia bezwzorcową, ilościową i jakościową analizę widm jak i analizę z użyciem wzorców analitycznych,
  • umożliwia akwizycję sygnałów sygnałów zewnętrznych z co najmniej dwóch źródeł, np. detektorów SE i BSE z maksymalną rozdzielczością 4069x4096 pikseli,
  • umożliwia tworzenie map pierwiastków.

Oprogramowanie zawiera edytor makr, umożliwiający operatorowi zdefiniowanie własnych procedur analizy spektralnej.

Mikroskop świetlny

Automatyczny mikroskop do obserwacji w świetle odbitym w jasnym i ciemnym polu, którego optyka spełnia następujące warunki:

  • korygowana do nieskończoności, system ICCS,
  • apochromatyczne oświetlenie w świetle odbitym.

Wyposażenie mikroskopu świetlnego

Jest wyposażony w:

  • zmotoryzowany, sterowany za pomocą komputera stolik,
  • stację roboczą o parametrach odpowiednich do płynnej pracy w konfiguracji mikroskopu, wraz z oprogramowaniem umożliwiającym płynne sterowanie mikroskopem, akwizycję i obróbkę obrazów,

antystatyczny zestaw ochronny oraz zawiera wszystkie elementy niezbędne do integracji w systemie mikroskopii korelacyjnej.

Uwaga: zapytania dotyczące warunków sprzedaży uprzejmie prosimy kierować mailem pod adresem: Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie w przeglądarce obsługi JavaScript. podając dane nadawcy: nazwa firmy, nazwisko i stanowisko osoby upoważnionej, adres mailowy oraz numer telefonu służbowego. W przypadku zainteresowania zakupem większej liczby kontrahentów Polska Izba Gospodarcza Zaawansowanych Technologii zastrzega sobie prawo sprzedaży w formie przetargu. Zapytania prosimy przesyłać po 24 sierpnia 2020 r.

--     --     --